 |
- Home
- Submit
-
Browse
- By laboratory
- By department
-
By researchteam
- ACES - Autonomic and Critical Embedded Systems
- CCN - Cybersecurity for Communication and Networking
- COMNUM - Communications numériques
- LinkC2S - Circuits et Systèmes de communication
- DIG - Data, Intelligence and Graphs
- DIVA - Design, Interaction, Visualization and Applications
- ECOGE - Economie Gestion
- GTO - Télécommunications Optiques
- IMAGES - Image, Modélisation, Analyse, GEométrie, Synthèse
- IQA - Information Quantique et Applications
- LabSoC - System on Chip
- MC2 - Mathématiques discrètes, Codage et Cryptographie
- MM- Multimédia
- RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques
- RMS - Réseaux, Mobilité et Services
- S2A - Signal, Statistique et Apprentissage
- SID - Sociologie, Information-Communication Design
- SPE - Sociologie, Psychologie ergonomique
- SSH - Secure and Safe Hardware
- By doctype
- Browse by author
- Search
Journal articles
RF-EMF exposure induced by mobile phones operating in LTE small cells in two different urban cities
1
LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information (46 rue Barrault F-75634 Paris Cedex 13 - France)
- Télécom ParisTech (46 rue Barrault 75634 Paris Cedex 13 - France)
- IMT - Institut Mines-Télécom [Paris] (37-39 Rue Dareau, 75014 Paris - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5141 (France)
2
UGENT - Ghent University [Belgium] (St. Pietersnieuwstraat 33, 9000 Gent, - Belgium)
3
LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information (46 rue Barrault F-75634 Paris Cedex 13 - France)
- Télécom ParisTech (46 rue Barrault 75634 Paris Cedex 13 - France)
- IMT - Institut Mines-Télécom [Paris] (37-39 Rue Dareau, 75014 Paris - France)
4
C2M - Chaire Modélisation, Caractérisation et Maîtrise des expositions aux ondes électromagnétiques (France)
- IMT Atlantique - IMT Atlantique Bretagne-Pays de la Loire (Campus Brest : Technopôle Brest-Iroise CS 8381829238 BREST Cedex 3 -
Campus Nantes : 4, rue Alfred Kastler- La chantrerie 44300 NANTES -
Campus Rennes : 2 Rue de la Châtaigneraie, 35510 CESSON SEVIGNE - France)
- IMT - Institut Mines-Télécom [Paris] (37-39 Rue Dareau, 75014 Paris - France)
- Télécom ParisTech (46 rue Barrault 75634 Paris Cedex 13 - France)
Document type :
Journal articles
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal.telecom-paris.fr/hal-02097742
Contributor : Joe Wiart <>
Submitted on : Friday, April 12, 2019 - 11:20:19 AM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:52 PM
Contributor : Joe Wiart <>
Submitted on : Friday, April 12, 2019 - 11:20:19 AM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:52 PM
Links full text
Identifiers
- HAL Id : hal-02097742, version 1
- DOI : 10.1007/s12243-018-0680-1
Collections
CNRS | LTCI | PARISTECH | INSTITUT-TELECOM
Citation
Taghrid Mazloum, Sam Aerts, Wout Joseph, Joe Wiart. RF-EMF exposure induced by mobile phones operating in LTE small cells in two different urban cities. Annals of Telecommunications - annales des télécommunications, Springer, 2019, 74 (1-2), pp.35-42. ⟨10.1007/s12243-018-0680-1⟩. ⟨hal-02097742⟩
Metrics
Record views
