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A Hierarchical Reliability Simulation Methodology for AMS Integrated Circuits and Systems
Hao Cai
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J. F. Naviner
H. Petit
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Document type :
Journal articles
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal.telecom-paris.fr/hal-02286422
Contributor : Telecomparis Hal <>
Submitted on : Friday, September 13, 2019 - 3:43:41 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:53 PM
Contributor : Telecomparis Hal <>
Submitted on : Friday, September 13, 2019 - 3:43:41 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:53 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-02286422, version 1
Collections
LTCI | PARISTECH | INSTITUT-TELECOM | COMELEC | SSH | C2S-CIRCUITS
Citation
Hao Cai, J. F. Naviner, H. Petit. A Hierarchical Reliability Simulation Methodology for AMS Integrated Circuits and Systems. Journal of Low Power Electronics, 2012, 8 (5). ⟨hal-02286422⟩
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