Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02286867
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:17:49
Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02286867 , version 1
Citer
Ting An, Kaikai Liu, Lirida Naviner. Analytical method for reliability assessment of concurrent checking circuits under multiple faults. MIPRO 37th International Convention/Microelectronics, Electronics and Electronic Technology, May 2014, Opatija, Croatia. ⟨hal-02286867⟩
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