Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Année : 2016
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02287471
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:59:48
Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02287471 , version 1
Citer
Hao Cai, You Wang, Lirida Naviner, Weisheng Zhao. Breakdown Analysis of Magnetic Flip-flop With 28nm UTBB FDSOI Technology. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2016, 16 (3), pp.376-383. ⟨hal-02287471⟩
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