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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2016

Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02287474

Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-16:59:52

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Dates et versions

hal-02287474 , version 1 (13-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02287474 , version 1

Citer

Hao Cai, Kaikai Liu, Lirida Naviner, You Wang, Mariem Slimani, et al.. Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits. Microelectronics Reliability, 2016, 64. ⟨hal-02287474⟩

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