Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications Année : 2018

Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs

Naghmeh Karimi
  • Fonction : Auteur
Jean-Luc Danger
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV
Sylvain Guilley
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV

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Citer

Naghmeh Karimi, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2018, 34 (5), pp.571-586. ⟨10.1007/s10836-018-5745-6⟩. ⟨hal-02287976⟩

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