A Layout-Based Fault Injection Methodology for SER Prediction: Implementation and Correlation with 65nm Heavy Ion Experimental Results - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

A Layout-Based Fault Injection Methodology for SER Prediction: Implementation and Correlation with 65nm Heavy Ion Experimental Results

Benjamin Coeffic
  • Fonction : Auteur
Victor Malherbe
  • Fonction : Auteur
Jean-Marc Daveau
  • Fonction : Auteur
Gilles Gasiot
  • Fonction : Auteur
Lirida Naviner
Secure and Safe Hardware
Département Communications & Electronique
CV
Jean-Luc Autran
Philippe Roche
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://telecom-paris.hal.science/hal-02288532

Soumis le : samedi 14 septembre 2019-18:55:20

Dernière modification le : jeudi 15 février 2024-11:29:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02288532 , version 1 (14-09-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02288532 , version 1

Citer

Benjamin Coeffic, Victor Malherbe, Jean-Marc Daveau, Gilles Gasiot, Lirida Naviner, et al.. A Layout-Based Fault Injection Methodology for SER Prediction: Implementation and Correlation with 65nm Heavy Ion Experimental Results. Proceedings of IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Jul 2016, New Orleans, United States. ⟨hal-02288532⟩

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