Traçabilité des  mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et  mesure

M. Bahouche; Eric Bergeault; Djamel Allal

Conference papers

Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure

M. Bahouche Eric Bergeault ^{1, 2} Djamel Allal

1 RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques

LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information

2 COMELEC - Département Communications & Electronique

Document type :

Conference papers

Domain :

Engineering Sciences [physics] / Electronics

Complete list of metadatas

https://hal.telecom-paris.fr/hal-02411833
Contributor : Telecomparis Hal <>
Submitted on : Sunday, December 15, 2019 - 12:34:06 PM
Last modification on : Friday, July 31, 2020 - 11:28:07 AM

Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure

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