Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure

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Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02411833 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411833 , version 1

Citer

M. Bahouche, Eric Bergeault, Djamel Allal. Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure. Journées Nationales Microondes, May 2011, Brest, France. ⟨hal-02411833⟩
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