Traçabilité des  mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et  mesure

M. Bahouche; Eric Bergeault; Djamel Allal

Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure

, (1, 2) ,

1
2

M. Bahouche

Fonction : Auteur

Eric Bergeault

Fonction : Auteur
PersonId : 949137

Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques

Département Communications & Electronique

Djamel Allal

Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.telecom-paris.fr/hal-02411833

Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:34:06

Dernière modification le : mercredi 29 décembre 2021-16:16:02

Dates et versions

hal-02411833 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

HAL Id : hal-02411833 , version 1

Citer

M. Bahouche, Eric Bergeault, Djamel Allal. Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure. Journées Nationales Microondes, May 2011, Brest, France. ⟨hal-02411833⟩

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