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Conference papers

Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure

M. Bahouche Eric Bergeault 1, 2 Djamel Allal 
1 RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques
LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
2 COMELEC - Département Communications & Electronique
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal.telecom-paris.fr/hal-02411833
Contributor : TelecomParis HAL Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Sunday, December 15, 2019 - 12:34:06 PM
Last modification on : Wednesday, December 29, 2021 - 4:16:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-02411833, version 1

Collections

INSTITUT-TELECOM | PARISTECH | LTCI | COMELEC | RFM2

Citation

M. Bahouche, Eric Bergeault, Djamel Allal. Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure. Journées Nationales Microondes, May 2011, Brest, France. ⟨hal-02411833⟩

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