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Conference papers
Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure
M. Bahouche
Eric Bergeault
1, 2
Djamel Allal
1
RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques
LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information
1
RFM2 - Radio-Fréquences Microondes et Ondes Millimétriques (46 rue Barrault
75013 Paris - France)
- LTCI - Laboratoire Traitement et Communication de l'Information (46 rue Barrault F-75634 Paris Cedex 13 - France)
- Télécom ParisTech (46 rue Barrault 75634 Paris Cedex 13 - France)
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2
COMELEC - Département Communications & Electronique (46, rue Barrault
75013 Paris - France)
- Télécom ParisTech (46 rue Barrault 75634 Paris Cedex 13 - France)
Document type :
Conference papers
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal.telecom-paris.fr/hal-02411833
Contributor : Telecomparis Hal <>
Submitted on : Sunday, December 15, 2019 - 12:34:06 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:55 PM
Contributor : Telecomparis Hal <>
Submitted on : Sunday, December 15, 2019 - 12:34:06 PM
Last modification on : Wednesday, June 24, 2020 - 4:19:55 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-02411833, version 1
Collections
COMELEC | RFM2 | LTCI | INSTITUT-TELECOM | PARISTECH
Citation
M. Bahouche, Eric Bergeault, Djamel Allal. Traçabilité des mesures de paramètres S pour des substrats différents entre calibrage et mesure. Journées Nationales Microondes, May 2011, Brest, France. ⟨hal-02411833⟩
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