Tolérance aux défauts dans les FPGAs - Télécom Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02411877 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411877 , version 1

Citer

Arwa Ben Dhia, Lirida Naviner, P. Matherat. Tolérance aux défauts dans les FPGAs. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Jun 2012, Marseille, France. ⟨hal-02411877⟩
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