Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité

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Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02411965 , version 1 (15-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02411965 , version 1

Citer

Ghalid Abib, Eric Bergeault, Reda Mohellebi, Souheil Bensmida, Bernard Huyart. Caractérisation expérimentale de transistors de puissance pour l’optimisation de la linéarité. 16émes journées nationales microondes, May 2009, Grenoble, France. ⟨hal-02411965⟩
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